耐压测试仪根据其作用可称为电气绝缘强度试验仪、介质强度测试仪等。其工作原理是：把一个高于正常工作的电压加在被测设备的绝缘体上，持续一段规定的时间，加在上面的电压就只会产生很小的漏电流，则绝缘性较好。程控电源模块、信号采集调理模块和计算机控制系统三个模块组成测试系统。选择耐压仪的2个指标：最大输出电压值及最大报警电流值的数值。

　　耐压测试仪是采用先进的数字电路技术，能自动控制输出电压的发生和停止。当测试泄漏电流超过设定值时，能够自动切断输出电压，同时发出声光报警，并指示出漏电流值的大小。需要定时测试时，只要预先设置合适的测试时间，启动高压后会在规定时间内自动切断输出，实现定时测试。

　　耐压测试仪使用注意事项:

　　1、操作者必须戴绝缘橡皮套，脚下垫绝缘橡皮垫，以防高压电击造成生命危险；

　　2、耐压测试仪必须可靠接地；

　　3、在连接被测体时,必须保证高压输出“０”及在“复位”状态；

　　4、测试时,仪器接地端与被测体要可靠相接，严禁开路；

　　5、切勿将输出地线与交流电源线短路，以免外壳带有高压，造成危险；

　　6、尽可能避免高压输出端与地短路，以防发生意外；

　　7、测试灯、超漏灯、一旦损坏，必须立即更换，以防造成误判；

　　8、排除故障时，必须切断电源；

　　9、耐压测试仪空载调整高压时，漏电流指示有起始电流，属正常，不影响测试精度；

　　10、仪器避免阳光正面直射，不要在高温潮湿多尘的环境中使用或存放；

　　集成芯片测试仪器是使用在不同的工艺中，在不同的工况要求下，集成芯片测试仪器在使用的时候需要注意一些使用知识，那么，集成芯片测试仪器在使用需要注意哪些呢？

　　芯片上的温度变化会显著地影响芯片功耗、速度和可靠性。特别是泄漏功率与温度呈指数关系，如果不能正确地处理，将导致热失控。而像压降和时钟偏移等性能因素也特别容易受空间温度变化的影响，并导致性能下降。集成芯片测试仪器在器件性能劣化过程中也扮演着重要角色，这是由于偏置温度不稳定等现象引起的，这在模拟电路中更加明显。封装和相关冷却系统的冷却效率会由于上的热点而降低。在许多情况下，片上热传感器需要正确放置于高温度的区域。

　　尽可能早地通过集成芯片测试仪器分析检测和消除设计中的热点，应该早在底层规划阶段就了解物理版图和功耗状况，此时也是进行早期热规划的好时机。集成芯片测试仪器运行时充分考虑封装和金属化效应。忽略这些结构、使用功率或功率密度图去估计温度，都会导致不准确的功率估计和其它对温度敏感的分析结果。

　　集成芯片测试仪器在每次可能改变芯片功率分布的设计反复阶段中，认真检查热效应。在器件的一些重要工作模式下作的热分析通常足够用来提供热点和其它关注点的反馈信息。集成芯片测试仪器在对片上变化敏感的时钟树和关键网络设计中充分利用分散的温度信息。时序和信号完整性分析也将受益于准确的温度和压降信息。如果集成芯片测试仪器传感器放置位置不正确，那么它们可能捕捉不到芯片的温度，也就可能导致过于乐观的反馈结果。

　　集成芯片测试仪器在使用的时候需要注意以上使用常识，多多注意保养，使得集成芯片测试仪器保持在稳定的状态。（本文来源网络，如有侵权，请联系删除，谢谢。）