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《石墨烯薄膜的性能测试方法》意见征求

时间:2020-07-08    来源:国家纳米科学中心 文章链接:化工仪器网 http://www.chem17.com/news/detail/129117.html    作者:仪多多商城     
【导读】石墨烯是近年来最热的新材料之一,具有高载流子迁移率以及光透过率,其作为透明导电膜材料在电子、光子及光电设备领域的应用范围十分广泛。

  石墨烯是近年来最热的新材料之一,具有高载流子迁移率以及光透过率,其作为透明导电膜材料在电子、光子及光电设备领域的应用范围十分广泛。目前,国内企业已经批量生产了石墨烯薄膜基触摸屏等终端产品,故而制定石墨烯薄膜性能(如透光性、导电性)测试标准对于指导和规范石墨烯薄膜行业的快速发展及其在光电等领域的应用具有极其重要的意义。

  2017年,国家纳米科学中心就成立了标准编制组,确定了标准的编制分工及制定项目计划表。在中国科学院的主管下,起草组进行了大量的文献调研,起草了《石墨烯薄膜的性能测试方法》,目前,该标准已经编制完成,正面向社会征求意见。

  因标准是第一次起草,故而为确保其严谨性、科学性和适用性,起草组在遵照GB/T 1.1-2009《标准化工作导则 第1部分 标准的结构和编写》的有关规定的基础上,引用了GB/T 26074-2008《锗单晶电阻率直流四探针测量方法》、GB/T 2410-2008《透明塑料透光率和雾度的测定》等标准法规。

  标准的内容包括有范围、规范性引用文件、术语和定义、原理、设备与标准物质、试样准备和测试点选择、测试步骤、结果计算、测试精度、检测报告等,规定了在常温常压大气环境下使用直排四探针法测量石墨烯薄膜方块电阻的方法、原子力显微术测定石墨烯薄膜厚度的方法、吸收光谱法测量石墨烯薄膜试样透光性的方法以及石墨烯薄膜的雾度测试方法。

  阅读《石墨烯薄膜的性能测试方法》征求意见稿后可知,四探针测量薄膜电阻率的方法是等间距直线排列的四探针垂直压在横向尺寸无穷大的薄膜试样表面;测量厚度的方法是在平整的基底上,使用原子力显微镜扫描石墨烯薄膜测量表面形貌,而薄膜边缘处,则是用原子力显微镜扫描薄膜与基底之间的台阶获得台阶的;透光率测试方法是使用紫外-可见-近红外分光光度计对石墨烯薄膜试样进行测试,得到各个波长点的透光率数据。

  本标准的实施能为石墨烯薄膜产品更广泛的生产、销售、检验提供重要依据,相信随着石墨烯薄膜材料的进一步普及和推广,也将促进石墨烯行业产生良好的经济效益和社会效益。




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