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国家市监管理总局发布《测量设备校准间隔的确定导则》(意见征求稿)

时间:2020-06-08    来源:国家市场监督管理总局    作者:仪多多商城     
【导读】《测量设备校准间隔的确定导则》国家计量技术规范由全国法制计量管理计量技术委员会归口,已经完成了征求意见稿,现在面向全国公开充分征求意见。

  由根据国家市场监督管理总局办公厅市监计量(2020)38号文件《市场监管总局办公厅关于下达2020年国家计量技术规范制定、修订及宣贯计划的通知》工作安排,《测量设备校准间隔的确定导则》国家计量技术规范由全国法制计量管理计量技术委员会归口,已经完成了征求意见稿,现在面向全国公开充分征求意见。可下载征求意见稿相关材料,填写意见回执表,请您提出宝贵意见(请填写在意见表中),于2020年9月2日前将意见反馈给起草人邮箱。

  节选该标准部分内容:

  本技术规范目的是为实验室在建立校准体系时,为确定测量设备的校准间隔提供指导。本规范亦适用于使用测量设备的其他合格评定机构(如检验机构和认证机构)及其他团体(如制造商)。

  保持实验室测量结果可追溯性和可靠性的一个重要方面是确定所使用的测量设备在连续校准(重新校准)之间应允许的最大周期。各种有关测量活动的国际标准都考虑到了这一点,如ISO/IEC 17025或ISO 15189。此外,适用于合格评定机构和其他运营方的国际标准中也包含这方面内容,如ISO/IEC 17020、ISO/IEC 17043、ISO/IEC 17065、ISO 9001、ISO 10012、ISO 17034或ISO 22870。

  测量设备定期校准的目的

  a) 在实际使用测量设备时,改进参考值与使用测量设备获得值之间的偏差以及对该偏差的不确定度的估计;

  b) 验证测量设备所能达到的较佳不确定度;

  c) 确认测量设备是否发生了变化,该变化可能会导致对过去一段时间内所出具的测量结果产生怀疑。

  影响校准间隔的因素

  校准时间和校准间隔的确定是校准工作的重要组成部分。影响校准间隔的因素很多,实验室应该考虑这些因素。

  当在以下(但不限于)条件下进行校准时,校准结果数据可用于重新确定校准间隔:

  a) 已通过同行评审的国家计量院及其指定机构提供的校准和测量能力。该同行评审是在国际计量委员会相互承认协议(CIPM MRA)下实施的。

  b) 经签署国际实验室认可合作组织(ILAC)协议或ILAC承认的区域协议的认可机构认可的能够证明其具有计量溯源性的校准和测量能力。

  初始确定因素

  初始校准间隔的确定主要取决于(但不限于)以下因素:

  a)实验室需要或声明的测量不确定度;对测量数据准确度要求高的,可适当缩短校准周期。应根据实际情况决定所需设备的准确度等级,不应盲目追求高的准确度;

  b)测量设备在使用时超过最大允许误差所带来的风险;

  c)风险评估分析,例如: 测量设备如果因校准间隔不正确造成超出校准期限(无法追溯)或测量设备发生显著漂移而导致的后果;

  d)测量设备的类型及其内部组件;若测量设备具有较好的长期稳定性和可靠性,可适当延长校准间隔,反之,则应缩短校准间隔。

  e)制造商关于测量设备的建议(当实验室要求或声明的不确定度是基于测量设备的准确度时,制造商的建议);

  f)磨损和漂移的趋势;

  g)预期的使用范围和严酷程度;测量仪器预期使用的频繁程度,使用频繁的测量仪器,其计量性能容易降低,可以考虑缩短校准周期;

  h)测量设备对检测、测量或校准结果的影响程度;测量设备的数据对产品质量有较大影响的,校准间隔应适当缩短;

  i)环境条件(气候条件、振动、电离辐射等);

  j)被测量的影响(如高温对热电偶的影响);

  k)相同或类似设备汇总或已发布的测量数据;

  l)与其他参考标准或测量仪器进行互相核查的频率;

  m)期间核查的频率、质量和结果;

  n)运输安排和风险;

  o)操作人员培训及其执行既定程序的程度。

  p)法律要求。

  控制图法 (方法2)

  控制图是质量控制统计学(SQC)重要的工具之一。其工作原理如下:选择有代表性的校准点,将其校准结果按时间绘制成曲线图。从这些曲线图中可以计算出结果的离散度和仪器的漂移量。仪器的漂移量通常是在一个校准间隔内的平均漂移,对于非常稳定的测量设备,也可以是几个校准间隔内的漂移。根据这些数据,可以计算出较佳间隔。

  在开始计算之前,需要对测量设备性能的变化规律有一定了解。同样,很难在风险和成本之间实现平衡。校准间隔可能与事先规定的校准间隔有较大变化,但不会使计算失效,因为通过可靠性计算,至少在理论上给出了有效的校准间隔。此外,计算结果的离散度可以表明制造商规定的误差限是否合理,对测量设备漂移的分析也有助于发现漂移的原因。

  注:本方法不适用于无仪器漂移的测量设备的校准。本方法适用于具有单一指定量值的实物量具,如量块或标准电阻的校准。




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