步入式高低温试验室是会按照设定的时间范围，降温到相应值，但是由于设备使用时间过长，或者操作不当，会引起步入式高低温试验室降温缓慢的情况。可能是因为以下5个因素导致的。
1、电气系统没有问题，继续检查制冷系统。首先检查两组制冷机组的低温级压缩机的排气和吸气压力都较正常值偏低，而且吸气压力呈抽空状态，说明主制冷机组的制冷剂量不足。
2、由于是温度保持不住，观察制冷压缩机在试验室运行过程中是否能够启动，压缩机在环境试验设备运行过程中都能够启动，说明从主电源到各压缩机的电器线路正常，电器系统方面也没有问题。
3、在温度保持阶段，一旦辅助机组停止工作，主机组又无制冷作用，试验箱内的空气就会缓慢上升，当温度上升到一定程度，控制系统就会启动辅助机组来降温，将温度下降至设定值(-50℃)附近，然后辅助机组又停止工作，如此反复，便会出现故障现象。
4、未确定故障原因，结合试验室的控制过程进一步确认故障原因，该试验室拥有两套制冷机组。
5、一为主机组，另一为辅助机组，在降温速率较大时，两组机组同时工作，在温度保持阶段初期，两组机组依然同时工作。待温度初步稳定下来，辅助机组停止工作，由主机组来维持温度的稳定。主机组的制冷效果不大，由于降温过程中，两机组同时工作，故没有温度稳定不住的现象，而指示降温速率降低。
步入式高低温实验室常见故障检测方法：
方法一：对比法
让有故障的仪表和正常仪表在相同情况下运行，而后检测一些点的信号再比较所测的两组信号，若有不同，则可以断定故障出在这里。这种方法要求维修人员具有相当的知识和技能。
要求有两台同型号的仪表，并有一台是正常运行的。使用这种方法还要具备必要的设备，例如，万用表、示波器等。按比较的性质分有，电压比较、波形比较、静态阻抗比较、输出结果比较、电流比较等。
方法二：电容旁路法
当某一电路产生比较奇怪的现象，例如显示器混乱时，可以用电容旁路法确定大概出故障的电路部分。
方法三：隔离法
故障隔离法不需要相同型号的设备或备件作比较，而且安全可靠。根据故障检测流程图，分割包围逐步缩小故障搜索范围，再配合信号对比、部件交换等方法，一般会很快查到故障之所在。
方法四：敲击法
经常会遇到仪器运行时好时坏的现象，这种现象绝大多数是由于接触不良或虚焊造成的。对于这种情况可以采用敲击与手压法。
所谓的“敲击”就是对可能产生故障的部位，通过小橡皮鎯头或其他敲击物轻轻敲打插件板或部件，看看是否会引起出错或停机故障。所谓“手压”就是在故障出现时，关上电源后对插的部件和插头和座重新用手压牢，再开机试试是否会消除故障。如果发现敲打一下机壳正常，再敲打又不正常时，可以先将所有接头重插牢再试，若不成功，只好另想办法了。
方法五：状态调整法
一般来说，在故障未确定前，不要随便触动电路中的元器件特别是可调整式器件更是如此，例电位器等。但是如果无纸记录仪事先采取复参考措施(例如，在未触动前先做好位置记号或测出电压值或电阻值等)，必要时还是允触动的。也许改变之后有时故障会消除。
IC的电源和地端;对晶体管电路跨接在基极输入端或集电极输出端，观察对故障现象的影响。如果彩色无纸记录仪电容旁路输入端无效而旁路它的输出端时故障现象消失，则确定故障就出现在这一级电路中。
方法六：观察法
利用视觉、嗅觉、触觉。某些时候，损坏了的元件会变色、起泡或出现烧焦的斑点;烧坏的器件会产生一些特殊的气味;短路的芯片会发烫;用肉眼也能观察到虚焊或脱焊处。
方法七：骑肩法
骑肩法也称并联法。把一块好的IC芯片安在要检查的芯片之上，或者把好的元器件(电阻电容、二极管、三极管等)与要检查的元器件并联，保持良好接触，如果故障出自于器件内部开路或接触不良等原因，则采用这种方法可以排除。
方法八：替换法
元件替换法：要求有两台同型号的仪器或有足够的备件。将一个好的备品与故障机上的同一元器件进行替换，看故障是否消除。
功能替换法：当故障机的某一部位的功能丧失后，由于一时无法找到原备品备件，可以根据该部位的电路原理，采购或自制电气参数功能相同或接近部件进行替换，同样可以达到修复仪器的目的。
方法九：升降温法
有时，仪表工作较长时间，或在夏季工作环境温度较高时就会出现故障，关机检查正常，停一段时间再开机又正常，过一会儿又出现故障。这种现象是由于个别IC或元器件性能差，高温特性参数达不到指标要求所致。为了找出故障原因金属加工网，可采用升降温法。
所谓降温，就是在故障出现时，用棉纤将无水酒精在可能出故障的部位抹擦，使其降温，观察故障是否消除。所谓升温就是人为地将环境温度升高，比如用电烙铁放近有疑点的部位(注意切不可将温度升得太高以致损坏正常器件)试看故障是否出现。
方法十：排除法
所谓的排除法是通过拔插机内一些插件板、器件来判断故障原因的方法。当拔除某一插件板或器件后仪表恢复正常，就说明故障发生在那里，此方法也是技术人员应该掌握并熟练运用的方法。
449717568